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HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱
簡要描述:
HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱是可靠性加速測試設(shè)備,別稱高加速應(yīng)力試驗(yàn)機(jī),主要用于模擬高溫、高濕、高壓復(fù)合環(huán)境,快速驗(yàn)證電子元器件、半導(dǎo)體封裝、汽車電子、光伏配件等產(chǎn)品的長期耐濕熱老化性能,是精密電子行業(yè)研發(fā)、可靠性驗(yàn)證、出廠質(zhì)檢的核心設(shè)備。相較于傳統(tǒng)濕熱測試,其老化效率提升數(shù)倍,可大幅縮短產(chǎn)品壽命驗(yàn)證周期。
HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱又稱 HAST/PCT 高加速濕熱試驗(yàn)機(jī),依托高溫、高壓、高濕復(fù)合應(yīng)力環(huán)境,快速加速水汽滲透與元器件老化,將自然環(huán)境數(shù)月的老化進(jìn)程壓縮至數(shù)天,是電子行業(yè)可靠性檢測的核心設(shè)備。設(shè)備分飽和 PCT 與非飽和 HAST 兩種機(jī)型,控溫區(qū)間 100℃~150℃,濕度 65%~100% RH,承壓 0.02~0.25MPa,溫壓調(diào)控精度高,符合 IEC、JESD、GB/T 多項(xiàng)國內(nèi)外可靠性試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)。
HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱箱體內(nèi)膽采用 SUS304 耐腐蝕不銹鋼,圓形承壓腔體符合壓力容器規(guī)范,外殼冷軋鋼板靜電噴塑,耐磨防銹;搭載智能 PLC 控制系統(tǒng),全程序可編程,自動補(bǔ)水、升降壓,可設(shè)置 0~999 小時(shí)長效試驗(yàn),選配多路偏壓接線端子,滿足帶電老化測試需求。設(shè)備配備自鎖安全門、超溫超壓雙重泄壓、缺水?dāng)嚯妶?bào)警等多重防護(hù),箱內(nèi)壓力越大艙門密封越緊實(shí),杜絕蒸汽泄漏隱患。
產(chǎn)品廣泛用于半導(dǎo)體芯片、PCB 線路板、LED 器件、車載電子、密封塑膠、磁性材料等檢測,快速暴露封裝漏氣、線路腐蝕、粘接失效等隱性缺陷,相較傳統(tǒng)雙 85 濕熱試驗(yàn)效率提升 5~10 倍,助力研發(fā)端優(yōu)化配方工藝、生產(chǎn)端來料品質(zhì)篩查,現(xiàn)已批量應(yīng)用于航天、汽車電子、光電、新能源電池等領(lǐng)域,為產(chǎn)品量產(chǎn)品質(zhì)把控提供精準(zhǔn)試驗(yàn)數(shù)據(jù)支撐。
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